XPQY-EQE LED绝对荧光量子效率测试系统
产品说明
LED绝对荧光量子效率测试系统
LED Photoluminescence Quantum Yield （PLQY） and EQE Measurement System
XPQY-EQE绝对荧光量子效率测量系统采用一体式设计，用于测量发光材料的荧光量子效率与外量子效率等参数。在开发新的发光材料过程中，提高他们的光致发光效率是至关重要的。提高该效率就需要测量量子效率的精确技术。XPQY-EQE系统由稳定的激发模块、特殊定制的积分球模块、高性能光谱测量模块和专业的系统软件组成。可以对溶液、薄膜和粉末样品进行快速、准确的测量。
产品特色
- 电动进样，减少人为误差，提高重复性与重现性
- 一体式设计，减少震动对光路的影响
- 采用蓝菲光学高反射率积分球
- 0-100%功率可调单色多通道LED
- 搭配背照式致冷探测器，适用效率低的样品
- 客制化夹具，适用薄膜，液体，粉末等发光材料
标准规格
| 项目 | 规格 |
| 光谱范围 | a. 350-1000 nm b. QY激发波长:350-750 nm c. PL激发波长: 350-750 nm d. 测量时间: 小于1秒 e. 稳定性: 小于0.1% |
| 激发波长 | a. 365 nm, 385 nm, 405 nm, 450 nm (任选两波长) b. 功率调节范围: 0-100% c. 光源稳定性: 0.5% (开机预热3分钟后) |
| 积分球 | a. 3.3”蓝菲光学Spectralon材料积分球，具有高朗伯效特性，抗老化 b. 反射率: 99% (400-1500 nm)；>96% (250 - 2000 nm)，可溯源至NIST |
| 探测器 | a. 高灵敏度多通道CCD b. 背照式致冷，可致冷至-20°C |
| 客制化夹具 | a. 根据客户样品封装设计夹具 b. 夹具适合样品尺寸: 15 mm2—1024 mm2 |
| 软件功能 | PLQY；PL；EQE；EL；I-V曲线测量；I-E曲线测量；恒流恒压电致发光老化测量；电流密度，辐亮度，光亮度，色度值测量等等 |
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